С докладом «Современные технологии исследования характеристик полупроводниковых приборов» на конференции "Испытание и тестирование изделий электронной техники" 22 октября в Москве выступит Насонов Андрей Юрьевич, главный конструктор компании "Остек-Электро"

Когда проводятся исследования характеристик в процессе разработки полупроводниковых приборов как правило используются средства измерения, которые затруднительно использовать в дальнейшем при серийном производстве. Для этого более применимы тестеры, предназначенные для использования в составе автоматизированных линий. Однако они как правило имеют метрологические характеристики, уступающие лабораторным приборам. Развитие современных технологий позволяет сузить этот разрыв благодаря повышению уровня автоматизации измерений у лабораторных приборов.

Сайт конференции: https://b2bconf.ru/testing/