Продолжение предыдущего поста 👆

Опытные пользователи систем периферийного сканирования знают, что за счет автоматического теста микросхем ОЗУ порой иногда обеспечивается чуть ли не половина тестового покрытия плат. Если бы память не напаивалась, была бы в планках, то проблем бы (почти) не возникло бы. А с таким раскладом, чтобы протестировать, скажем, пайку процессора, нужно размещать контактные площадки и использовать ICT-адаптер. А пайку микросхем памяти – ну если мы, например, используем адаптер ICT на этих линиях, то там где-то в недрах, значит, подключен DIOS, его можно и использовать для генерации и запуска тестов ОЗУ. Но для этого-то тест ОЗУ с помощью периферийного сканирования и нужен, чтобы не ставить контактных площадок: на чувствительных линиях памяти им совсем не место!
Что ж, будем смотреть дальше!