🔬 Встречаемся на форуме «Микроэлектроника - 2026»!

С 27 сентября по 3 октября ждём вас в Университете «Сириус» на стендах «Активной Фотоники» №90 и №103.

В этом году представим две новые разработки, которые впервые анонсируем на выставке:

🔹 Установка измерения стресса uFLEX 300 — полуавтоматическая система для прецизионного измерения механических напряжений в тонких плёнках на полупроводниковых пластинах диаметром до 300 мм.

🔹 Новая версия uSTEP 300 с автоматизированной настройкой — комплекс для микроскопического анализа пластин до Ø300 мм с системой высокоточного XY(Θ)-позиционирования.

Что ещё покажем?

🔬 LS RamBo 620 (ППРФ 719 ППРФ 878) — конфокальный рамановский и фотолюминесцентный 3D-сканирующий микроспектрометр.

🔬 uVISION 300 — автоматическую инспекционную установку в видимом и УФ-свете с аппаратным автофокусом для выявления, квалификации и классификации дефектов с использованием ИИ.

🔬 Ntegra Prima — универсальный сканирующий зондовый микроскоп, реализующий более 40 методов атомно-силовой и туннельной микроскопии.

Также на стенде №95 «ПЛАНАР» будет представлена полуавтоматическая зондовая станция uPROBE 200.

💬 Не только выставка

«Активная Фотоника» также примет участие в научных секциях и круглых столах.

📅 30.09:
⏰ 15:00–15:20 | Секция 13
👤 Толкач Н. М. 💻 ОНЛАЙН
«Исследование методами спектроскопии кристаллического совершенства синтетических объёмных алмазов»

📅 30.09:
⏰ 15:40–16:00 | Секция 13
👤 Муратова Е. Н.
📊 «Индустриальная модель подготовки кадров для научного приборостроения: опыт интеграции вузовской науки, молодёжных лабораторий и высокотехнологичного производства»

📅 30.09:
⏰ 16:00–16:20 | Секция 13
👤 Новиков И. А. 💻 ОНЛАЙН
📊 «Источник внешнего магнитного поля и магнитооптический модуль для сканирующей зондовой микроскопии магнитных материалов»

📅 02.10:
⏰ 09:00–09:20 | Секция 9
👤 Трусов М. А.
📊 «Физико-математическое описание особенностей работы атомно-силового микроскопа применительно к решению задач метрологии и инспекции в микроэлектронной отрасли

📅 02.10:
⏰ 12:10–12:30 | Секция 13
👤 Толкач Н. М. 💻 ОНЛАЙН
📊 «Новое аналитическое оборудование для анализа энергонезависимых материалов с переменной фазовой структурой»

📅 02.10:
⏰ 12:30–12:50 | Секция 9
👤 Дроботов Дмитрий Дмитриевич
📊 «Метрологический суверенитет микроэлектроники: от лабораторных СЗМ к промышленному контролю на пластинах до 300 мм

📅 02.10:
⏰ 12:30–12:50 | Секция 13
👤 Кузнецов Е. В.
📊 «Методика и аппаратная часть для реализации 3D-CD измерений полупроводниковых структур для нужд современной микроэлектроники»

Приходите послушать доклады, обсудить актуальные задачи микроэлектроники и диагностики и лично пообщаться с нашими разработчиками и инженерами.

🎁 И, конечно, мы подготовили подарки для гостей стендов!

📅 27 сентября — 3 октября
📍 Университет «Сириус»
📌 Стенды «Активной Фотоники»: №90 и №103

Будем рады встретиться на «Микроэлектронике - 2026»!