🇷🇺 Отечественное оборудование. Оборудование для тестирования микросхем. Россия

Positive Technologies создал комплекс LFI-26 для тестирования безопасности чипов

LFI - от англ. Laser Fault Injection, лазерная инжекция неисправностей. Комплекс позволяет вносить «управляемые сбои» в работу чипов с помощью сфокусированного лазерного излучения. Точность воздействия обычно достигает нескольких микросекунд и позволяет выявлять уязвимости в аппаратной защите устройств. Такие исследования позволяют выявлять не только уязвимости, но и возможные «закладки» на аппаратном уровне.

С помощью LFI-26 можно проверять защищенность чипов, которые устанавливают в банкоматы, банковские карты, криптокошельки, iPhon'ы, IoT-устройства, автомобильные блоки управления или орбитальные спутники.

До 2022 году такие решения закупались за рубежом, обычно, у французской ALPhANOV и у компании Riscure, Нидерланды.

LFI-26 – не изолированное решение, но часть линейки комплексов для исследований безопасности микроэлектроники, разработкой и выпуском которой занимается компания Positive Labs. В эту линейку, в частности, входят системы для электромагнитного воздействия на чипы – EMFI-26 (Electromagnetic Fault Injection) и анализа побочных каналов EMSCA-26 (от англ. ElectroMagnetic Side Channel Analysis).

Комплекс представили на ПМЭФ.

((по материалам пресс-релиза компании Positive Technologies))

✓ подписаться на канал,
✓ наши новости можно читать также на MForum и в ВК