Томские учёные обучили нейросеть диагностировать дефекты отечественной микроэлектроники.

Этап тестирования продукта показал, что разработанное специалистами ТГУ алгоритмическое и программное обеспечение превосходит по точности, помехоустойчивости и быстродействию аналогичные технологии США, Китая, Тайваня и других стран.

Как пишет Томская интернет-газета, результаты проекта уже используются в промышленности для дефектоскопии элементов радиоэлектронной аппаратуры и другого оборудования.