🗣ИСП РАН представил доклад по статическому анализу конечных автоматов на ITC-Asia 2026

19–22 августа в Нинбо (Китай) прошла юбилейная десятая Международная конференция по тестированию в Азии — ITC-Asia 2026. Она объединила исследователей и инженеров в области проектирования, верификации, тестирования, надёжности и безопасности интегральных схем.

Среди докладчиков — представители ведущих компаний отрасли: Synopsys, Siemens EDA, Huawei (HiSilicon), Intel, ByteDance, а также университетов и научных организаций США, Японии и Китая.

✔️Старший лаборант ИСП РАН Андрей Вязовцев выступил с докладом «SVAN-FSM: Static Analysis of Finite State Machines in SystemVerilog» в секции Pre-Silicon Security Analysis. Работа выполнена в соавторстве с Яном Чуркиным, Арманом Егиазаряном, Рубеном Бучацким, Александром Камкиным и Артёмом Коцыняком.

В той же секции были представлены работы исследователей из Университета электронной науки и технологий Китая, Пекинского транспортного университета и Тяньцзиньского университета. Статья по докладу будет опубликована в цифровой библиотеке IEEE Xplore.

👨‍💻SVAN-FSM является частью SVAN — системы статического анализа описаний цифровой аппаратуры, разрабатываемой в ИСП РАН. Инструмент автоматически извлекает конечные автоматы из RTL-описаний на языке SystemVerilog и выявляет в них дефекты — например, недостижимые состояния и взаимоблокировки — без запуска симуляции. Обнаружение таких ошибок ещё на этапе проектирования RTL-модели, до синтеза и физической реализации микросхемы, существенно сокращает стоимость исправлений и ускоряет цикл разработки.

Конференцию открыл пленарный доклад Ерванда Зоряна — президента Synopsys Armenia, главного архитектора и научного сотрудника Synopsys, президента IEEE Test Technology Technical Council. Его выступление «Lifetime Health for Multi-Die Systems in the Era of AI» было посвящено тестированию и надёжности многокристальных систем. В 2014 году д-р Зорян был удостоен Национальной медали науки Республики Армения.

➡️ITC-Asia — азиатская конференция семейства International Test Conference, одного из ведущих мировых форумов в области тестирования электроники. Первая ITC-Asia состоялась в Тайбэе в 2017 году. В 2026 году конференция отметила десятилетие и прошла в Нинбо — одном из крупнейших портовых и индустриальных центров восточного Китая.

💬ИСП РАН в Telegram
💬ИСП РАН в МАКС