Радиация – один из главных факторов, представляющих угрозу микроэлектронике в космосе.
«Электроника требует материалов с высокой стабильностью, — сказал директор Института космических исследований РАН Анатолий Петрукович. – Если ионизирующее излучение нарушает кристаллическую структуру полупроводника, его электрические характеристики изменяются, что может привести к частичной деградации или полной неработоспособности устройства».
Поэтому при создании орбитальной техники предусмотрены соответствующие меры защиты, а также проводится тестирование оборудования перед запуском. Однако испытания в крупных исследовательских установках обходятся дорого, что увеличивает стоимость космических миссий. Решая эту задачу, специалисты создали миниатюрную установку для испытаний микросхем на радиационную стойкость.
«Радиация в космосе неоднородна, – отметил руководитель научного центра сертификации элементов и оборудования АО «Российские космические системы» Тимофей Каськов. – Например, на низких орбитах (до 2 тыс. км) присутствуют небольшие дозы, но если прибор находится снаружи спутника или это малый аппарат с тонкой защитой, то количество радиации, накопленной электроникой, может быть выше. Наиболее суровы орбиты высотой от 2 тыс. до 4 тыс. км из-за большого количества высокоэнергетических протонов».
Разработанный специалистами прибор предназначен для тестирования отдельных компонентов электроники, а не всей аппаратуры целиком, и является совершенно безопасным для персонала. Интересно, что прибору не требуется электроэнергия, что позволяет проводить испытания в круглосуточном режиме.
По словам экспертов, разработка будет полезна для тестирования компонентной базы при подготовке беспилотных экспедиций на Марс и в дальний космос.
Подробности читайте в специальном репортаже «Известий»
#разработки