🤩 Школа молодых учёных
🤩Сапрыкина Василина Сергеевна, АО «НИИМЭ»:
Метод верификации на основе унифицированного блока показал большую эффективность по всем рассмотренным показателям для верификации периферийных интерфейсов микроконтроллера: он обеспечивает сокращение количества тестовых файлов в 3,5 раза, их объём – в 7 раз, а времени симуляции – на 11,3%, обеспечивая при этом сопоставимое кодовое покрытие. Также с помощью данного метода было обнаружено 92,52% встроенных мутаций, в то время как с помощью метода прямых тестовых воздействий – только 63,55%.
🤩Костелецкий Валерий Павлович, ТУСУР:
Связь низкоорбитального космического аппарата с немодифицированными абонентскими терминалами требует быстрого электронного сканирования лучом. Таких характеристик позволяет добиться использование активной фазированной антенной решетки. Для этой АФАР разработан компактный планарный антенный элемент с левой и правой круговыми поляризациями на приём и передачу соответственно. Такой антенный элемент обеспечивает развязку каналов порядка 30 дБ и изготавливается по технологиям, которые используют производители печатных плат.
🤩Тюрников Алексей Юрьевич, Отдел радиофотоники, МФТИ:
В проекте «Высотный ЛазерКом» объединены четыре ключевых контура: грубое и точное наведение, адаптивная оптика и передача данных. Построение этих контуров на базе серийных компонентов и уже отработанных технологий позволяет снизить стоимость терминалов и ускорить развёртывание сети лазерной связи. В перспективе технология объединит спутники, высотные платформы и наземные объекты в районах, где прокладка кабеля затруднена или экономически невыгодна.
🤩 Козлов Сергей Вячеславович, СПбГЭТУ «ЛЭТИ»:
Перовскитные солнечные элементы – одна из самых быстрорастущих технологий в фотовольтаике, но их эффективность ограничена дефектами структуры. Методами TCAD-моделирования исследована чувствительность КПД инвертированного перовскитного элемента к объёмным и интерфейсным дефектам. Показано, что рост плотности дефектов в объёме плёнки перовскита снижает КПД на 89%, тогда как дефекты на границе раздела слоёв практически не влияют на результат. КПД оптимальной структуры составил 12,44%
#ФорумМикроэлектроника
#ШМУ
#Козлов
#Тюрников
#Костелецкий
#Сапрыкина